返回首页
中文版
|
English
全国服务热线:
021-3328-0015
网站首页
关于KADO
公司简介
企业文化
质量管理
服务中心
新闻资讯
纠偏系统
控制器
传感器
驱动器
DF型框架
DFS纠偏框架
SF纠偏框架
翻转纠偏
厚度&面密度测量系统
激光测厚
X射线面密度检测
β射线面密度检测
视觉系统
对齐度检测
宽度检测
表面缺陷检测
联系我们
激光测厚
X射线面密度检测
β射线面密度检测
β射线面密度检测
(氪85)衰变产生的射线,穿透电池极片时,一部分射线被极片吸收。导致穿透极片后的射线强度相对于入射射...
Copyright
©
2006-2024
凯多智能科技(上海)有限公司
All Rights Reserved.
沪ICP备19033417号-1
沪公网安备 31012002004993号
技术支持:
品划网络